Количественный эмиссионный спектральный анализ, его аппаратура. Пламенная фотометрияПериодическая система / Количественный эмиссионный спектральный анализ, его аппаратура. Пламенная фотометрияСтраница 5
При фотографическом варианте АЭА через специальную диафрагму над или под исследуемым спектром фотографируют эталонный спектр железа (рис.2.3.2).
Для определения длины волны lx неизвестной линии выбирают в спектре сравнения резкие линии с l1 и l2 так, чтобы анализируемая линия находилась между ними.
С помощью спектропроектора идентификацию проводят, совмещая эталонный спектр железа, на котором приведены последние линии других элементов, с исследуемым спектром и отмечают совпадения линий сравниваемых спектров. Отсутствие последней линии определяемого элемента в спектре гарантирует отсутствие других линий этого элемента. Однако наличие линии с l, характерной для последней линии какого-либо элемента, ещё не означает, что данная линия принадлежит именно этому элементу. Это может быть и следствием наложения спектральных линий. Поэтому окончательную идентификацию проводят, проверяя последние линии всех "подозреваемых" элементов.
Качественным АЭА определяют более 80 элементов с пределом обнаружения от 10-2% (Hg, Os и др.) до 10-5% (Na, B, Bi и др.). Низкий предел обнаружения может привести к переоткрытию элементов, попавших в пробу в результате случайных загрязнений.
Смотрите также
ТАЙНОЕ ИСКУССТВО ГЕРМЕСА
Всем истинным искателям Света. Пусть то, что найдут они здесь, наставит и укрепит
их в поиске Квинтэссенции, Камня Философов, подлинной Мудрости и совершенного Счастья,
Summum Bonum.
Д-р Израэль ...
Тепловой эффект химической реакции
Тепловые
эффекты химических реакций необходимы для многих технических расчетов. Они
находят обширное применение во многих отраслях промышленности, а также в
военных разработках.
Целью
д ...